Contrato en

Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).

RESUMEN DEL CONTRATO 29060003-001-02-UAMICAA-2002-LP-01

Importe total

11 millones de pesos mexicanos (11,048,065.72 MXN)

Período de contrato(s)

Entre el 8 de mayo de 2004 y el Fecha desconocida

Unidad compradora

Coordinación de Servicios Administrativos de la Unidad Iztapalapa en México

Proveedor(es)

INTERCOVAMEX, S.A. DE C.V.

Este contrato es parte de un expediente. Ver expediente ocds-0ud2q6-29060003-001-02 en formato Open Contracting Data Standard.

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PLANEACIÓN

No hay datos

CONVOCATORIA

Dependencia

UNIVERSIDAD AUTÓNOMA METROPOLITANA

Unidad compradora

Coordinación de Servicios Administrativos de la Unidad Iztapalapa (Clave: 29060003 )

Tipo de convocatoria

Licitación Pública (open)

Ámbito

Nacional

Tipo de compra

Adquisiciones (goods)

Estado de la convocatoria

complete

ADJUDICACIÓN Y CONTRATO

Título de la convocatoria

Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).

Título de la adjudicación

Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).

Título del contrato

Descripción detallada de las características del Sistema de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) y Microscopia Electrónica de Efecto Túnel (STM) para trabajar en condiciones de Ultra Alto Vacío (UHV) y con temperaturas variables ( VT-UHV-AFM/STM) y técnicas para caracterización de superficies metálica, semi-metálica y no-metálica: Espectroscopia Electrónica Auger normal (AES), Microscopia Electrónica de Barrido de Electrones Auger (SAM), Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS) y Espectroscopia de Electrones de Energía Perdida (EELS).

Proveedor(es/as)

INTERCOVAMEX, S.A. DE C.V.

Monto

11 millones de pesos mexicanos (11,048,065.72 MXN)

Fecha de firma

8 de mayo de 2004

Período de ejecución

8 de mayo de 2004 a Fecha desconocida

Código interno de la adjudicación

UAMICAA-2002-LP-01

Documentos oficiales

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Este contrato está (terminated)

IMPLEMENTACIÓN

No hay datos

INFORMACIÓN GENERAL

Fecha de actualización en QQW

9 de mayo de 2021

Documentos oficiales

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Fuente(s)

CompraNet 3.0

Forman parte del proyecto

TodosLosContratos.mx

Organización responsable de la importación

PODER